射頻導納測量原理
射頻導納是一種從電容式發(fā)展起來(lái)的、防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的新型物位控制技術(shù)，是電容式物位技術(shù)的升級。所謂射頻導納，導納的含義為電學(xué)中阻抗的倒數，它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成，而射頻即高頻無(wú)線(xiàn)電波譜，所以射頻導納可以理解為用高頻無(wú)線(xiàn)電波測量導納。儀表工作時(shí)，儀表的傳感器與灌壁及被測介質(zhì)形成導納值，物位變化時(shí)，導納值相應變化，電路單元將測量導納值轉換成物位信號輸出，實(shí)現物位測量。
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對于連續測量，射頻導納技術(shù)與傳統電容技術(shù)的區別除了上述講過(guò)的以外，還增加了兩個(gè)很重要的電路，這是根據導電掛料實(shí)踐中的一個(gè)很重要的發(fā)現改進(jìn)而成的。上述技術(shù)在這時(shí)同樣解決了連接電纜問(wèn)題，也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問(wèn)題。所增加的兩個(gè)電路是振蕩器緩沖器和交流變換斬波器驅動(dòng)器。
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對一個(gè)強導電性被測介質(zhì)的容器，由于被測介質(zhì)是導電的，接地點(diǎn)可以被認為在探頭絕緣層的表面，對變送器來(lái)說(shuō)僅表現為一個(gè)純電容。隨著(zhù)容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現在變成了由電容和電阻組成的復阻抗，從而引起兩個(gè)問(wèn)題：
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第一個(gè)問(wèn)題是液位本身對探頭相當于一個(gè)電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能）。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會(huì )消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來(lái)，導致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個(gè)緩沖放大器，使消耗的能量得到補充，因而不會(huì )降低加在探頭的振蕩電壓。
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第二個(gè)問(wèn)題是對于導電被測介質(zhì)，探頭絕緣層表面的接地點(diǎn)覆蓋了整個(gè)被測介質(zhì)及掛料區，使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導電性越強誤差越大。但任何被測介質(zhì)都不是完全導電的。
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從電學(xué)角度來(lái)看，掛料層相當于一個(gè)電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無(wú)數個(gè)無(wú)窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線(xiàn)。根據數學(xué)理論，如果掛料足夠長(cháng)，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。
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因此根據對掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差研究，又增加一個(gè)交流驅動(dòng)器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測得的總電容相當于C+C掛料，再減去與C 掛料相等的電阻R，就可以實(shí)際測量真實(shí)值，從而排除掛料的影響。
即C測量=C+C掛料
C=C測量—C掛料
=C測量— R
產(chǎn)品特點(diǎn)
1.通用性強：可測量液位及料位，可滿(mǎn)足不同溫度、壓力、介質(zhì)的測量要求，并可應用于腐蝕、沖擊等惡劣場(chǎng)合。
2.防掛料：獨特的電路設計和傳感器結構，使其測量可以不受傳感器掛料影響，無(wú)需定期清潔，避免誤測量。
3.免維護：測量過(guò)程無(wú)可動(dòng)部件，不存在機械部件損壞問(wèn)題，無(wú)須維護。
4.抗干擾：接觸式測量，抗干擾能力強，可克服蒸汽、泡沫及攪拌對測量的影響。
5.準確可靠：測量量多樣化，使測量更加準確，擇良不受環(huán)境變化影響，穩定性高，使用壽命長(cháng)。