雷達液位計的干擾因素主要包括：

高頻頭沾染粘附物、障礙物對反射的干擾、短管內的阻抗躍變、天線(xiàn)連接處的阻抗躍變、罐內油氣或蒸汽結露影響反射等。

常見(jiàn)的儀表信號干擾源電磁兼容性已成為工業(yè)過(guò)程測量和控制儀表的一項重要性能指標。

由于測量和控制儀表總是和各類(lèi)產(chǎn)生電磁干擾的設備工作在一起，因此不可避免地受電磁環(huán)境的影響。常見(jiàn)的干擾源主要分外部干擾和內部干擾兩大類(lèi)?！?/p>

3.1外部干擾

1）天體和天電的干擾天體干擾是由太陽(yáng)或其他恒星輻射電磁波所產(chǎn)生的干擾。天電干擾是由雷電、大氣的電離作用、火山爆發(fā)及地震等自然現象所產(chǎn)生的電磁波和空間電位變化所引起的干擾。

2）機械的干擾機械的干擾是指由于機械的振動(dòng)或沖擊，使控制儀表中的電氣元件發(fā)生振動(dòng)、變形，使連接線(xiàn)發(fā)生位移，使指針發(fā)生抖動(dòng)、儀表接頭松動(dòng)等。對于機械類(lèi)的干擾主要是采取減振措施來(lái)解決，例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。

3）熱的干擾火電廠(chǎng)熱力設備在工作時(shí)產(chǎn)生的熱量所引起的溫度波動(dòng)和環(huán)境溫度的變化，都會(huì )引起控制儀表的電路元器件參數發(fā)生變化，從而影響控制儀表的正常工作。

4）光的干擾在控制儀表中廣泛使用著(zhù)各種半導體元件，這些半導體元件在光的作用下會(huì )改變其導電性能，從而影響控制儀表的正常工作。

5）濕度干擾濕度過(guò)高會(huì )引起絕緣體的絕緣電阻下降，漏電流增加；電介質(zhì)的介電系數增加，電容量增加；吸潮后骨架膨脹使線(xiàn)圈阻值增加，電感器變化；應變片黏貼后，膠質(zhì)變軟，精度下降等。

6）化學(xué)的干擾酸、堿、鹽等化學(xué)物品以及其他腐蝕性氣體，除了具有化學(xué)腐蝕性作用將會(huì )損壞儀器設備和元器件外，又能與金屬導體產(chǎn)生化學(xué)電動(dòng)勢，從而影響控制儀表的正常工作。

3.2內部干擾干擾有時(shí)也來(lái)自?xún)x表內部，如電源變壓器、導線(xiàn)、印刷電路、電子元件之間的電感、電容或元器件內部的噪聲干擾。