隨著(zhù)物位儀表在各行業(yè)的廣泛應用,物位儀表在測量過(guò)程中也遇到很多影響因素,今天來(lái)總結分享一下有哪些影響因素:
1、對于過(guò)溢掩護,可定義一個(gè)相應距離值即盲區。
2、測量范圍與天線(xiàn)有關(guān),不同規格天線(xiàn)精度有所不同。
3、測量范圍從波束涉及罐低的那一點(diǎn)開(kāi)始算起,但在特別狀況下,若罐低為凹型或錐形,當液位低于此點(diǎn)時(shí)將無(wú)法進(jìn)行測量。
4、如果介質(zhì)介電常數較小時(shí),當處于低液位時(shí),罐底可見(jiàn),為保障測量精度,倡議將零點(diǎn)調整。
5、隨濃度不同,泡沫既能夠吸收微波,又能夠將其反射,但在正常條件下是能夠進(jìn)行測量的。
6、理論上測量到達天線(xiàn)尖端是能夠實(shí)現的,考慮到侵蝕及粘附的影響,測量規模的終值應與天線(xiàn)的尖端至少間隔100mm。
?